當紅外線相機運作時，若相機受到干擾，可能會造成量測結果不準確。其干擾來源包含環境變化，如室內或室外場景轉換；或溫度差異較大的待測物，如鋼液或冷凍物體。受干擾的紅外線相機會產生更多的雜訊，進而導致量測結果變異 (延伸閱讀：什麼是熱靈敏度 NETD?)。因此，操作紅外線相機時，通常會需要執行「不均勻校正」 Non-Uniformity Correction (NUC) 以提高量測精度，「不均勻校正」亦稱為「非均勻校正」或簡稱為「均勻校正」。
原理說明
紅外線相機運作一段時間後，相機本身會逐漸到達工作溫度；此時，量測一均勻溫度的物體，理論上，會得到一張溫度相同的影像。但因相機的感應器溫度、其他零件、環境溫度等多種因素的影響，可能會造成影像不均勻或產生明顯的雜訊，藉由不均勻校正以修正影像，將可以獲得理想的結果。
不均勻校正依據操作方式分為「內部校正」與「外部校正」兩類： 內部校正的步驟較為簡單：校正時，相機內部的快門會關閉，並計算補償值；幾秒後，重新開啟快門，後續依照補償值修正量測結果。由於快門關閉與開啟的原因，產生「喀嚓」聲且畫面會暫時停止，此為正常的現象，無須緊張。
外部校正的原理類似，但步驟較多，通常需要拍攝一個或多個指定的目標物後，才能決定補償值。雖然外部校正步驟較為麻煩，也需花費較長的時間，但也因為如此，將能獲得更為準確的量測結果。
結果差異
上圖為相機執行不均勻校正前後的結果比較；圖左為校正前，圖右為校正後；可以看出兩者在雜訊與細節上，有顯著的差異。
無論是較簡單的內部校正或是較完整的外部校正，適時地執行不均勻校正能夠讓量測結果更加的精準。為了達到精準且快速的校正，安新精密科技開發獨家專利 (專利第 M633481 號)，透過簡單的步驟就能迅速執行校正並且擁有精準的校正結果。操作軟體介面如圖所示，能執行各種的不均勻校正，操作容易且方便。整合於紅外線顯微鏡以及緊湊型非破壞檢測儀，在平常量測時，能手動或由軟體自動判斷與執行內部校正，以維持精度；當有高精度量測需求時，可執行外部校正，以獲得更精準的量測結果。
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