EM 系列是安新針對電器與電子元件檢測所開發的紅外線顯微鏡 (專利第 M609641 號)，整合高性能的紅外線相機，亦稱紅外光顯微鏡或熱輻射顯微鏡，能檢測半導體元件或顯示面板，精準的找出問題發生處，為失效分析 Failure Analysis 的強大工具。
靈敏的溫度解析度
EM 系列透過搭配室溫型或 InSb 製冷型相機，熱靈敏度達 20 mK，以獲得低雜訊的影像。
優異的光學解析度
EM 系列所使用的相機解析度最低 640 x 480，整合精密運動平台自動拼圖，解析度達到 9600 x 7680。
超高的時間解析度
在解析度 640 x 512 時，FPS 可達 1000 張；使用格放模式，FPS 更高達 30,000 張。
精確的訊號分析
EM 系列搭配強大的影像處理，能提供別於傳統紅外線影像，達到準確的量測結果。
交換式鏡頭設計
放大倍率最高至 8X (1.25um/pixel) 靈活搭配，不會影響待測物的高頻阻抗與其散熱，因此可精密的檢測出缺陷並精準的定位。
漏電流偵測
為偵測樣品異常產生的熱輻射，EM 系列搭配高靈敏相機，避免量測誤差且能同時記錄多個量測點，適用於非接觸式量測大面積或複雜的表面溫度。
Mini LED 面板瑕疵檢測
因現今電路設計於更低的電壓與更小的耗電下操作，所造成的瑕疵偵測更為不易，相同的現象也在發生於面板。由於 Mini LED 或 Micro LED 的晶片更小，傳統設備難以檢測，且僅用紅外線影像，無法確認瑕疵位置；但經 EM 系列影像處理分析後，清楚呈現問題處。