攜帶型非破壞檢測儀

iX 系列為 UNX 安新精密科技針對非破壞檢測 (Nondestructive-Testing,NDT)所推出攜帶式的產品 (專利第 M595218 號),完整且輕巧的設計便於操作;適合量測各類型的材料,例如:金屬、塑膠、玻璃纖維或碳纖維的非破壞檢測 (Nondestructive-Testing,NDT),不須額外塗抹耦合劑或事先製作試片,即可確認是否有內部脫層、脫膠、孔隙或斷裂,為真正的非接觸檢測。

應用領域廣泛

因 iX 系列攜帶方便的特性,使紅外線非破壞檢測 (Nondestructive-Testing,NDT) 能更廣泛應用在各產業,
如車輛、造船、航空及太空產業。


七吋觸控螢幕

攜帶式設計

量測環境並非皆為乾淨整齊如實驗室內的受控場合,iX 系列為攜帶式的設計,搭配七吋觸控螢幕,便於操作,能夠快速、輕便又準確的量測。

清楚的內部資訊

相較一般紅外線相機,iX 系列除了能得到表面溫度分布外,透過訊號分析,達到非破壞的方式而得知材料「內部」資訊。

容易判讀

iX 系列整合紅外線相機、控制電路與電腦於儀器中,量測結果以影像顯示,易於人員判別與分析。